金融界2024年12月19日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市星桐科技有限公司申请一项名为“试卷批改分数的校对方法及装置、存储介质、终端”的专利，公开号CN 119131807 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种试卷批改分数的校对方法及装置、存储介质、终端，涉及图像识别技术领域，主要目的在于解决试卷批改分数的校对准确度较低的问题。主要包括采集待校对试卷的试卷图像，并对所述试卷图像进行目标检测，得到所述待校对试卷中的批改框，其中，所述批改框包括试卷总分批改框及分别对应不同题目的题目批改框；对所述批改框进行字符识别，根据识别结果确定试卷批改总分以及各个所述题目的得分，并依据全部所述题目的得分计算得到试卷总得分；若所述试卷总得分不匹配所述试卷批改总分则生成所述待校对试卷的校对异常结果。主要用于校对纸质试卷的批改分数。
本文源自金融界
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